老化测试房厂家服务放心可靠「元亚化工仪器」

老化测试原理

大多数半导体器件都有早期故障或故障的风险，这会缩短其产品的使用寿命。老化测试可用于在此关键的早期阶段确定组件的可靠性，并确保电路进入其寿命的更有效的长期阶段。老化系统可以使设备在升高的电压和温度下运行，这会在短时间内触发电压和温度故障机制。虽然预烧测试可能对筛选有缺陷的产品有益，但成本会根据设备的复杂性和所需的预烧时间而增加，并且由于性能条件的严重性，有时还会引入新的故障模式。

老化房对于测试电子这种化学性能复杂且有一定的安全风险性的测试设备时，是指给电子产品一个高温环境，测试其在一定高温下的稳定性能。有些电子产品有b炸的危险，当外部环境温度升高时，电子产品内部会发生化学反应，内部压力增加，使得组成电子产品的化学成分混合液体积产生变化，一旦体积突然变化得太大，超过电子产品外壳限制的固定体积所能负荷时，电子外壳就会因为承受不住内部压力产生b炸的情形。

高温老化房一般要考虑试品架或试品车的情况。

在长期与用户接触中，经常遇到用户对于高温试验箱与高温老化房(烧机房)等指标近似作用界限模糊的设备分不清的情况，在此做了一个较系统的说明。希望对大家了解高温老化房和高温试验箱有帮助啊。

此设备多采用双面彩钢保温库板组合而成，根据不同的要求配置本体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、进排风系统、匀热系统、时间控制系统、测试负载（BURN-IN LOAD）等，通过此测试程序可检查出不良品或不良件，为客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段，提高客户生产效率和产品品质。